集成电路器件常规、可靠性及极端环境建模 / Modeling of integrated circuit devices---general model, reliability model, and the model for extre | 深圳量子科学与工程研究院

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集成电路器件常规、可靠性及极端环境建模 / Modeling of integrated circuit devices---general model, reliability model, and the model for extre

星期三

Oct 12

卜建辉 Jianhui Bu

深圳国际量子研究院518报告厅 / Room 518,SZIQA

10：00-11：00

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