基本信息

姓名： 陆四荣

职称：Research Associate

电 话（办公室）：

研究领域：量子材料表征，电子显微学，第一原理计算


教育背景

2013.8 - 2018.5

美国亚利桑那州立大学材料科学与工程专业，获博士学位

2011.8 - 2013.7

清华大学材料科学与工程专业，获工学硕士学位

2007.8 - 2011.7

清华大学材料科学与工程专业，获工学学士学位


工作经历

2019.7-至今

深圳量子科学与工程研究院Research Associate

2018.9 - 2019.6

美国亚利桑那州立大学科研计算部门博士后


论文及专利


(1) Lu, Sirong; Smith, David J ; A Hyperspectral Unmixing Framework for Energy-Loss Near-Edge Structure Analysis, Ultramicroscopy, 2020, 218(NA): 0-113096

(2) HsinWei Wu; Sirong Lu; Toshihiro Aoki; Patrick Ponath; Jian Wang; Chadwin Young; John G. Ekerdt; Martha R. McCartney; David J. Smith ; Direct Observation of Large Atomic Polar Displacements in Epitaxial Barium Titanate Thin Films, Advanced Materials Interfaces, 2020, 2020(7): 0-2000555

(3) Sirong Lu; Kristy J Kormondy; Alexander A Demkov; David J Smith ; An EELS signal-frombackground separation algorithm for spectral line-scan/image quantification, Ultramicroscopy, 2018, 195: 25-31

(4) Lu Sirong; Kormondy Kristy J; Ngo Thong Q; Aoki Toshihiro; Posadas Agham; Ekerdt John G; Demkov Alexander A; McCartney Martha R; Smith David J ; Spectrum and phase mapping across the epitaxial gamma-Al2O3/SrTiO3 interface, Applied Physics Letters, 2016, 108(5): 0-051606

(5) Lu S R; Yu R; Zhu J ; Atomic steps on the MgO(100) surface, Physical Review B, 2013, 87(16): 0-165436